薄膜材料磁导率测试_常州球盟会电子股份有限公司
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    薄膜材料磁导率测试

        厚度小于1微米的膜材料,称为薄膜材料,主要应用领域为半导体功能器件和光学镀膜领域。针对薄膜材料的介电常数和磁导率,球盟会的TH2851阻抗分析仪配合相关夹具及软件,推出了全套的解决方案。

    具体方案

    测试对象:薄膜,厚度10μm-100μm;

    测试要求:频率1-20MHz;磁导率范围50-200

    通过在磁性材料周围缠绕导线并测量导线末端的阻抗,复磁导率是通过测量磁性材料的阻抗参数计算得来的。TH26088是专为测量磁性材料的磁导率而设计的夹具,可配置单匝电感器,并将材料模制成环形,单匝电感器中没有漏磁,夹具中的磁场严格按照电磁理论计算。

    磁导率.png


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