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半导体器件CV特性测试
TH510系列
TH511 半导体C-V特性分析仪

 栅极电压VGS:0 - ±40V

 漏极电压VDS:0 - ±200V

 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、RgCies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

 一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

 单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

 标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

 CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

 电容快速充电技术,实现快速测试

 接触检查Cont

 通断测试OP_SH

 自动延时设置

 Crss Plus功能:解决高频下Crss负值问题

 高压击穿保护:DS瞬间短路,保护仪器

 Interlock安全锁功能:增加高压防护墙(仅TH513

 Cs-V功能:二极管结电容CV特性测试分析

 等效模式转换功能,可选CsCp模式

 10档分选

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TH512 半导体C-V特性分析仪

 栅极电压VGS:0 - ±40V

 漏极电压VDS:0 - ±1500V

 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、RgCies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

 一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

 单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

 标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

 CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

 电容快速充电技术,实现快速测试

 接触检查Cont

 通断测试OP_SH

 自动延时设置

 Crss Plus功能:解决高频下Crss负值问题

 高压击穿保护:DS瞬间短路,保护仪器

 Interlock安全锁功能:增加高压防护墙(仅TH513

 Cs-V功能:二极管结电容CV特性测试分析

 等效模式转换功能,可选CsCp模式

 10档分选

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TH513 半导体C-V特性分析仪

 栅极电压VGS:0 - ±40V

 漏极电压VDS:0 - ±3000V

 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、RgCies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

 一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

 单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

 标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

 CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

 电容快速充电技术,实现快速测试

 接触检查Cont

 通断测试OP_SH

 自动延时设置

 Crss Plus功能:解决高频下Crss负值问题

 高压击穿保护:DS瞬间短路,保护仪器

 Interlock安全锁功能:增加高压防护墙(仅TH513

 Cs-V功能:二极管结电容CV特性测试分析

 等效模式转换功能,可选CsCp模式

 10档分选

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